Lösungen

        
         

AOI
PfeilTR-7500
PfeilTR-7500DT
PfeilAOI Reparaturstation
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Lotpasteninspektion
PfeilTR-7006
PfeilLotpasten- und Stencil- Inspektionsmikroskop
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FLYING PROBER
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Optische Inspektion
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ICT
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MDA
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SW-Lösungen
PfeilCAMCAD
PfeilEsight
PfeilVisECAD
PfeilBoundary-Scan
PfeilFlashRunner
PfeilTestgenerator FPGA/CPLD
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Sonstiges
PfeilALUM-A-LIFT

TRI (Test Research Inc.) hat sich zum führenden Hersteller von Testsystemen im asiatischen Raum entwickelt und bietet durch die Kooperation mit ATEcare nun auch in Europa ein breites Produktspektrum. Außerdem ein ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis gekoppelt mit flächendeckender Betreuung in Zentral- und Osteuropa.

 

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MDA der TR518 Serie
Manufacturing Defect Analyzer

Die meistverkaufte MDA-Architektur weltweit!

  1. Flexible Integrationsmöglichkeiten in Rack-, Tisch- oder Untertisch-Bauweise.
  2. Brandneu: Die Kleinstversion TR518FS, mit max. 896 Testpunkte bei gleicher beschriebener Funktionalität.

Anwendungsbereiche:

  • Baugruppen mit geringer bis mittlerer Wertschöpfung (Consumer-Elektronik, "Weissware", usw.)
  • Kleinserien mit hohem Produkt-Mix bis Hochvolumendurchsatz

Eigenschaften:

  • Kostengünstiges, modular erweiterbares Einsteigersystem
  • Höchste Testabdeckung bei maximaler Genauigkeit
  • Sehr hohe Prüfgeschwindigkeit
  • 6-Draht-Guarding, 4-Draht-Kelvinmessungen
  • Analoge Präzisions-Instrumente
  • Modular aufrüstbar in 64er-, resp. 128er-Schritten auf bis zu 2560 analoge Testpunkte
  • Einfach zu bedienende, graphische Benutzeroberfläche; keine Programmierkenntnisse erforderlich
  • Vakuum-, Press-Down- oder Inline-Adaptierung
  • Über 5000 verkaufte Einheiten weltweit

Symbol of Excellence Winner

Standardmäßig integriert:

  • Automatischer Testprogramm-Generator
  • Auto-Debugger für passive Komponenten
  • Lern-Automatismen für Opens- und Kurzschlusstests
  • QM- und Statistik-Tools

Optionen:

  • CAD-Anbindung mit CAMCAD: Das MDA-Prüfprogramm kann so automatisch aus über 30 verschiedenen CAD-Formaten generiert werden.
  • Boundary-Scan-Integration (onTAP)
  • Erweiterte Funktionstestanbindung
  • Agilent TestJet: Verfahren zur vektorlosen Detektierung offener Verbindungen an digitalen, analo­gen und Mixed-Signal-ICs, BGAs und Steckern.
  • Intel Socket Test