Lösungen

TR-5001IL Kombitestsystem IN-LINE

All-in-One: MDA-, In-Circuit- und Funktionstestsystem im schnellen Handler von CRS Prüftechnik

Der wohl schnellste Tester in einem unschlagbaren Handlingskonzept; leicht zu bedienen, wartungsarm, und schnell - das gehört zusammen. Das dazu mögliche Adapterkonzept ist durchdacht, erprobt und benötigt nur geringe Rüstzeiten.

Anwendungsbereiche:

• Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrt, Netzgeräte-Hersteller, usw.
• Optimiert für Kunden, die gern Ihre Anwendung preiswert den möglichen Produkten anpassen wollen.

Eigenschaften:

• Kostengünstiges, modular erweiterbares Einsteigersystem
• Flexible Integration Ihrer Prüfstrategie
• Modular aufrüstbar in 64er-Schritten auf bis zu 3200 analoge oder 1600 digitale Testpunkte (mischbar)
• 1:1-Real-Pin-Architektur, d.h. hinter jedem Testpunkt an der Schnittstelle sitzt ein Treiber-/Receiver-Paar. Dies ermöglicht das Testen von Baugruppen mit hoher Knotendichte und reduziert den Aufwand für die Übernahme von Adaptern von Drittherstellern sowie das Durchführen von ECOs erheblich.
• Einfach zu bedienende, graphische Benutzeroberfläche; keine Programmierkenntnisse erforderlich
• Press-Down- oder Inline-Adaptierung
• Individuelle Gehäusegestaltung durch 19“ Rahmentechnik

Standardmäßig integriert:

• Automatischer Testprogramm-Generator
• Auto-Debugger für passive Komponenten
• Lern-Automatismen für Opens- und Kurzschlusstests
• QM- und Statistik-Tools

Optionen:

• On-Board- und Flash-Programmiertools
• NAND-Tree-Modellgenerator
• Boundary-Scan-Integration
• Erweiterte Funktionstestanbindung über integriertes PXI-Cage und National Instruments' LabWindows/CVI
• Auto-Link-Software: Optimiert die Testabdeckung in Verbindung mit den AOI-Systemen der TR-7000er Serie
• Frei programmierbare UUT-Spannungs- und Stromversorgungen
• Agilent TestJet: Verfahren zur vektorlosen Detektierung offener Verbindungen an digitalen, analo­gen und Mixed-Signal-ICs, BGAs und Steckern
• Intel Socket Test