Lösungen

ICT TR-8100LV

Die skalierbare In-Circuit-Test-Plattform:

Anwendungsbereiche:

• Komplexe Baugruppen mit hohem Digitalanteil
• Hochvolumendurchsatz, große Stückzahlen

Eigenschaften:

• Höchste Kosteneffizienz
• Höchste Testabdeckung bei maximaler Genauigkeit
• 6-Kanal-Analog-Subsystem
• Analoge Präzisions-Instrumente
• 1:1-Real-Pin-Architektur, d.h. hinter jedem Testpunkt an der Schnittstelle sitzt ein Treiber-/Receiver-Paar. Dies ermöglicht das Testen von Baugruppen mit hoher Knotendichte und reduziert den Aufwand für die Übernahme von Adaptern von Drittherstellern sowie das Durchführen von ECOs erheblich.
• Modular aufrüstbar in 128er-Schritten auf bis zu 3584 hybride Testpunkte (in der TR-8100LLV-Version auf bis zu 5632 Testpunkte).
• Unterstützt sowohl Standard- als auch Low-Voltage-Logiken in einem System
• Einfach zu bedienende, graphische Benutzeroberfläche

Standardmäßig integriert:

• Automatischer Testprogramm-Generator
• Auto-Debugger für passive Komponenten
• Lern-Automatismen für Opens- und Kurzschlusstests
• On-Board- und Flash-Programmiertools
• NAND-Tree-Modellgenerator
• Agilent TestJet: Verfahren zur vektorlosen Detektierung offener Verbindungen an digitalen, analo­gen und Mixed-Signal-ICs, BGAs und Steckern.
• QM- und Statistik-Tools

Optionen:

• Boundary-Scan-Integration
• Intel Socket Test
• Frei programmierbare UUT-Spannungs- und Stromversorgungen
• Hard- und Softwarekonverter zur Übernahme von Adaptern und Programmen von GenRad-, Teradyne- und Agilent-Testsystemen